對(duì)于進(jìn)入21世紀(jì)的我們來說，相信大家現(xiàn)在對(duì)手機(jī)這個(gè)物品并不陌生。從17世紀(jì)的"大哥大”，到后來的小靈通，到現(xiàn)在的智能手機(jī)，科技的進(jìn)步真的日新月異。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，手機(jī)的進(jìn)步離不開許多實(shí)驗(yàn)成果。過去，當(dāng)手機(jī)處于高溫狀態(tài)時(shí)，容易出現(xiàn)手機(jī)堵塞、電池?fù)p壞等現(xiàn)象，嚴(yán)重時(shí)可能發(fā)生爆炸。因此，手機(jī)廠商在研究時(shí)，需要使用高溫試驗(yàn)箱進(jìn)行手機(jī)高溫試驗(yàn)，確保其性能穩(wěn)定運(yùn)行。

　　那么，將手機(jī)放入高溫試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫試驗(yàn)時(shí)，主要測(cè)試手機(jī)中的哪些地方呢？

 

　　首先，需要測(cè)試手機(jī)中的電池。作為手機(jī)的核心要素之一，電池在高溫下容易發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，導(dǎo)致其迅速膨脹。充電時(shí)，電池也會(huì)受到高溫的影響，電池長(zhǎng)期不耐用。因此，研究人員不斷優(yōu)化多電池，以確保電池的耐久性。

 

　　其次是需要測(cè)試手機(jī)中的電路板。由于高溫的作用，可能會(huì)加速手機(jī)中電路板的老化。一旦電路板出現(xiàn)問題，就會(huì)出現(xiàn)手機(jī)觸摸故障或自動(dòng)關(guān)機(jī)。因此，有必要對(duì)電路板進(jìn)行高溫試驗(yàn)。

 

　　今天介紹了高溫試驗(yàn)箱的手機(jī)測(cè)試。如果您想了解您的產(chǎn)品的性能，請(qǐng)致電我們。我們的工程師將給出專業(yè)意見和熱線：4000-662-888。